二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 5 #293602517 待售

ID: 293602517
晶圓大小: 12"
優質的: 2013
Brightfield inspection system, 12" Process: Metro 2013 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5是用於半導體生產的先進的掩模和晶圓檢測設備。該系統采用獨特的先進成像技術,以前所未有的精度和速度識別和評估半導體晶片上的模式。通過提供簡單直觀的操作和靈活的數據輸出,AMAT UVision 5是研究掩模和晶片質量的先進高效工具。APPLICED MATERIALS UVision 5的關鍵部件是其成像單元。這臺機器利用紫外線提供卓越的分辨率和精確度的圖像。這種工具能夠捕獲小至12納米的圖樣,並檢測半導體晶圓上甚至輕微的異常或粒子汙染。借助Zeiss Versa Automated 10 x 5NA配備的光學器件,該資產每秒可吞吐量高達100個視場。UVision 5還擁有先進的數據處理功能。其專有軟件將顯微鏡中的邊緣數據和成像模型中的照片數據合並在一起,以更好地識別晶圓中的缺陷、不規則性或其他異常。然後可以將這些數據處理為各種矩陣,如原始數據、測量數據和可視信息。此外,此設備還允許在晶圓上的多層之間進行數據融合,以確定各個邊界之間的一致性和一致性。此外,AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5通過其實時控制提供了簡化的系統操作。這允許用戶在使用設備時方便地調整特征、參數和數據的可視化級別。此外,它還與AMAT HVM(高批量制造)、Atlas軟件解決方案很好地集成在一起。這進一步簡化了用戶體驗,減少了在特定項目的工程任務上所花費的工作量和時間。最後,AMAT UVision 5的數據輸出能力也保證了精確的報表生成。這允許機器以各種行業標準格式(如.csv、.txt、.xml、.vdm、.vmd和.mma格式)導出數據,從而允許用戶將數據自由移植到另一個工具。總之,APPLIED MATERIALS UVision 5是一種先進的掩碼和晶圓檢測資產,具有復雜的成像功能和先進的數據處理工具。憑借其簡單的操作、多層數據融合和高分辨率的實時控制,該模型是任何半導體生產環境下的一個強大而高效的工具。
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