二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7 #293665711 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7是為先進半導體器件制造而設計的先進的掩模和晶圓檢測設備。它配備了一個緊湊的光學顯微鏡（COM）系統，提供更高分辨率的晶圓和掩模圖樣圖像，用於精確檢查。它旨在準確檢查和檢查各種材料和應用的微小缺陷和變化。該單元由三個主要組件組成：照明機、光學和圖像捕捉工具以及成像和控制資產。照明模型負責在整個晶片或掩模上均勻分布均勻、高強度的紫外線或可見光，這是準確捕獲晶片/掩模上的結構和圖案所必需的。光學和圖像捕獲設備由CCD攝像機和光學器件組成,它們捕獲晶片/掩模圖樣的圖像。成像和控制系統允許用戶控制圖像的曝光、圖像的焦點以及圖像的分辨率、強度和光譜範圍。AMAT UVision 7的設計考慮到高精度和精確度，可以檢查尺寸小至0.02微米的設備。它還包含多層對準系統，以準確地用每個設備結構記錄檢查結果。該單元還配備了自動缺陷檢測算法，可以準確檢測模式的缺陷、汙染物和非功能性區域。此外,APPLIED MATERIALS UVision 7與多種布局格式兼容,並具有用戶友好的界面,可輕松操作機器。總體而言,UVision 7是一種功能強大且用途廣泛的掩模和晶片檢查工具,旨在為幾乎任何大小或復雜的半導體器件提供快速而準確的檢查。它采用先進的成像和捕獲系統、全面的控制系統以及自動缺陷檢測和註冊系統來構建,以確保準確捕獲高質量的圖像並執行高度準確的檢查。