二手 AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7 #9271006 待售

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7是一種用於識別晶圓和光掩模上缺陷的掩模和晶圓檢測設備。它可以引導模式缺陷,監控過程,增加協作,確保缺陷分類的準確性並提高吞吐量,從而降低復雜性並提高產量。AMAT UVision 7利用帶電粒子束光學系統從基板獲取成像和探測數據。該技術利用光電子透鏡、光電子加速器和光電子探測器。這些元件參考電子，產生高分辨率的圖像，而不會使掩模或晶圓的表面變形。然後以高放大倍率檢查該圖像以查明潛在缺陷。應用材料UVision 7包含用於晶圓缺陷識別的直接陰極照明單元。本機利用熒光屏增強了表面特征的觀賞效果。屏幕上的亮點表示表面水平或結構存在缺陷。UVision 7還具有同時分析整個晶圓表面的全場成像工具。這樣就可以全面查看可能存在的任何缺陷或結構缺陷,並可以快速識別任何需要額外註意的領域。為了增強用戶與客戶或供應商之間的協作,AMAT/APPLICED MATERIALS UVision 7包含了遠程審核功能和決策支持工具。遠程審查功能允許世界各地的設施進行缺陷審查和協作。決策支持工具有助於自動缺陷分類,以減少復雜性和操作員工作量。此外,AMAT UVision 7還包括正在申請專利的Active Pattern Learning功能。此功能可持續監控曲面隨時間變化的模式,並可以快速識別新的或變化的模式,以幫助防止潛在缺陷。總體而言,APPLIED MATERIALS UVision 7是一種高級掩碼和晶片檢查資產,它提供成像和探測功能、用於晶片缺陷識別的直接陰極照明、用於分析整個曲面的全場成像、用於增加協作的遠程審查功能以及用於降低復雜性的決策支持工具。申請專利的Active Pattern Learning功能有助於識別新模式或更改模式,以防止潛在缺陷。該模型結合其各種特點，提高產量並降低復雜性，以確保高質量生產光掩模和晶片。