二手 ANDA TESA-uHITE PIM 100 #9222760 待售

ANDA TESA-uHITE PIM 100
ID: 9222760
Wafer thickness measuring system.
ANDA TESA-uHITE PIM 100是一種通用的掩模和晶圓檢測設備,非常適合在各種應用中使用。該系統利用最先進的集成成像技術,快速準確地檢測和測量晶圓、掩模和顯示器表面的缺陷。也可用於檢查一系列材料,如半導體、薄膜晶體管、LED和其他組件。TESA-uHITE PIM 100的核心部件是其成像技術。這項技術以CCD(電荷耦合器件)和消色差透鏡光學器件為基礎,能夠同時發射日光和紅外線。這樣可以對各種材料進行高精度的表面檢查。此外,該裝置能夠檢查200毫米至820毫米大小不同的晶片。ANDA TESA-uHITE PIM 100除了具有成像能力外,還包括多項高級軟件功能,包括動態圖像識別、3D圖像分析、多圖像比較等。這些功能使機器能夠在比傳統視覺工具更深的層次上識別缺陷,從而幫助減少返工和材料損失。此外,資產的內置跟蹤和記錄功能使檢查結果得以存儲和分析,以便將來進行評估。TESA-uHITE PIM 100在控制環境方面也提供了一系列的多功能性。它能夠從手動操作和PC操作接收微小和詳細的控制命令。此外,它還配備了一套全面的安全功能,包括電阻式觸摸保護和開/關開關,確保在使用該型號時免受電擊或火災。為進一步提高設備性能,ANDA TESA-uHITE PIM 100還設有內置網絡端口,允許用戶與外部系統進行通信。這在大型設置中使用時特別有用,允許用戶遠程訪問系統以進行集中控制。總體而言,TESA-uHITE PIM 100是一個極其可靠和強大的單位,用於晶圓、掩模和顯示器的表面檢查。其先進的成像技術允許更快、更準確的缺陷檢測,以減少材料損失和返工,而其通用的控制環境使其適合各種應用。此外,它的內置安全功能確保了機器使用時的安全環境。
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