二手 ASM IBE 139 #293637813 待售

ASM IBE 139是一種功能齊全的掩模和晶片檢測設備,可提供半導體晶片和掩模的精確、超清晰的圖像分析。它旨在在生產過程中準確檢測單個晶體管和組件的位置，並定位潛在的缺陷。該系統提供了在潛在問題成為主要生產障礙之前快速發現這些問題的有效工具。ASM IBE139具有強大的光學顯微鏡設備,配有強大的數字成像處理器,可促進晶圓和掩模的精確、高放大成像。顯微鏡安裝在一個電動XYZ級上，設計用於從小至幾微米的截面采集圖像樣本。此外，這種顯微鏡利用高靈敏度、高動態範圍CCD相機來捕捉半導體晶片外層以及表面以下層的圖像。為進一步方便準確識別和分析缺陷，IBE 139配備了強大的圖像處理引擎，利用先進算法準確識別和放大缺陷。這些算法使機器能夠快速地將圖像樣本與清潔晶圓圖像數據庫進行比較，有效地檢測任何變化或不規則性。該工具還能夠對不同級別的圖像之間的差異進行詳細的矢量分析,從而能夠識別和隔離最小的缺陷。除了強大的成像處理器外,IBE139還具有直觀的用戶界面,允許用戶快速輕松地控制和監控資產。該模型具有集成的數據管理器,可實現缺陷本地化、註釋和自動測試模式識別等功能。這使用戶能夠快速隔離晶片或掩模中需要進行進一步測試和分析的部分。該設備還具有實時警報功能,使其能夠快速通知用戶檢測到的生產問題。ASM IBE 139還提供了更高的性能、可靠性和運行效率。該系統采用專有硬件平臺,旨在確保可靠的操作和長期耐用性。此外，該單元可以很容易地與各種軟件工具結合起來，以促進晶圓和掩模檢查的自動化，包括使用自動宏運算。因此，ASM IBE139是要求精確可靠檢測結果的高效掩模和晶片制造商的理想選擇。