二手 ASM IBE 139 #293637822 待售

ASM IBE 139是一種用於檢測半導體晶片上的缺陷和粒子的掩模和晶片檢測設備。它是由領先的半導體測試和檢驗系統供應商Automated Semiconductor Makers（ASM）開發的。該系統基於光學顯微鏡成像光束（OMiB）技術，將高分辨率成像與自動去除顆粒相結合。它有一個集成的工具箱,包含50多種自動化工具,使制造商和設計人員能夠快速準確地分析設備缺陷。該單元使用三個主要組件。第一個組成部分是顯微鏡，這是一種光學機器，產生晶圓的特寫記錄。它可以以各種放大和分辨率操作，提供晶圓微觀結構的詳細視圖。它還包括用於自動圖像分析、檢測缺陷和粒子以及生成報告的高級圖像處理軟件。第二個部件是ultasonic清洗。用於利用超聲波去除晶圓中的顆粒。波由波導產生，然後定向到晶圓上的特定位置。波導清潔晶圓表面，還能檢測到顆粒或裂紋，可用於質量控制。第三個組件是紅外濾波器。它用於通過去除光譜中的紫外線和可見光來去除晶圓中的粒子。它檢查一個帶有紅外輻射的晶片，使其能夠產生粒子和缺陷的增強圖像。通過使用這些組件，ASM IBE139工具可用於檢測半導體晶片上的顆粒、缺陷和汙染。它還可以檢測晶片地形的變異性、濾波器規格的偏差以及監測晶片表面質量。該資產可用於最大限度地提高產量、降低成本和提高所生產設備的質量。