二手 ASM IBE 139H #9150566 待售

ASM IBE 139H掩模和晶圓檢測設備是一種先進的自動化檢測系統,可精確可靠地測量半導體器件和電路。它用於生產和研究目的，並提供基於圖像的3D測量設備上的多個特征和結構。該單元由兩個功能強大的高精度測量工具設計成一個單元，包括一臺高分辨率視覺機和一臺互補的空氣承載工具。高分辨率視頻資產用於對各種顏色、精細結構和幾何圖像的特征進行快速、準確的光學測量。它的分辨率為0.36 µm，在不到一分鐘的時間內就能獲得多達10,000個單獨的結構圖像，並能提供對裝置內部和外部區域的詳細分析。互補的空氣軸承模型利用空氣過濾技術，對電氣、光學和機械部件進行高精度測量。這種設備可以精確測量10微米以下的特征。該系統支持多種不同的探測系統，如空氣軸承、針頭探針和力探針。IBE 139H能夠測量各種掩碼和晶片樣品配置,包括多個掩碼、多個晶片和不同的厚度。這些樣品的尺寸範圍從0.5mm到20mm。其先進的光學和探測單元可以準確快速地捕捉和測量結構的不同部分。ASM IBE 139H軟件也很有價值，具有多種特點。它包括多文件支持、一鍵結構測量和編輯、數據分析和控制文件以及掩碼繪圖選項。軟件還提供動態報告、用戶定義的參數和防止錯誤的自動化,以確保精確的測量。總而言之,IBE 139H掩模和晶圓檢測機是一種先進且功能強大的自動化檢測儀,能夠對半導體器件和電路上的多個特征和結構進行精確、快速和可重復的測量。它配有高分辨率成像資產和互補的空氣軸承模型，適合生產和研究用途。其用戶友好的軟件使其易於使用，使數據分析準確可靠。