二手 ASM ISIBE 139H #9396132 待售

ASM ISIBE 139H是一種用於半導體制造過程中的高性能掩模和晶圓檢測設備。它配備了大量先進的成像和檢查功能,可以檢測到11微米以下的缺陷,非常適合檢查復雜晶片上的微小特征,如掩模模式和MEMS結構。ISIBE 139H具有較高的運行速度，使其能夠處理高吞吐量的晶片。該系統利用先進的激光成像和檢查技術，提供極為精確的設備圖像。其高效的圖像處理算法確保只捕獲和分析最重要的特征。它還配備了一個先進的缺陷檢測方案，用於檢測未對準、缺失和變薄的模式。該單元即使是最難檢測的缺陷，也能檢測到，使其適合於原子力顯微鏡（AFM）和電子束光刻（EBL）等應用。ASM ISIBE 139H還具有高精度聚焦控制機,有助於提供高分辨率圖像。該工具的10 μ m分辨率成像比其他系統產生更大的檢查區域,從而可以在更短的時間內檢測到更多的缺陷。資產還配備了自動缺陷分析和分類功能，使其比其他需要人工幹預以識別缺陷的檢查系統更具優勢。ISIBE 139H具有直觀的用戶界面,易於操作和最小的培訓。其先進的校準模型使晶片和掩模圖樣的定位更加容易、準確和一致。該設備還具有自動對焦功能,使用戶能夠快速準確地調整光學對焦以獲得更好的結果。ASM ISIBE 139H廣泛應用於半導體行業，提供可靠的缺陷檢測和缺陷識別能力。高性能、精確度和直觀的用戶界面使其成為掩模和晶圓檢測的理想選擇。其先進的成像、缺陷檢測和校準功能確保了準確可靠的結果,使其成為任何半導體制造過程中必不可少的工具。