二手 ASM TIB 139 #293656557 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ASM TIB 139是針對掩模和晶圓缺陷的先進無損檢測設備。它是用於質量控制、工藝優化和制造產量改進的理想的高性能自動化解決方案。該系統能夠分析各種缺陷，如化妝品缺陷、擦傷、扭曲、汙染、厚度變化、顆粒和其他不符合要求的特征。該單元的主要部件包括半導體檢測平臺、晶圓卡盤和調節模塊、視覺機、對準單元和控制器。該平臺包含可調級和晶圓傳輸工具，采用剛性材料和減震器構造，以確保晶圓的精確放置和支撐。晶片卡盤和調整模塊用於微調晶片的定位以進行優化檢查，而視覺資產則用於捕獲缺陷並對其進行精確分析。對準單元可幫助攝像機獲取精確的圖像,從而獲得最高分辨率的圖像。最後，控制單元確保了模型參數的可靠監控和調整，以優化設備性能。該系統提供高精度、高速和非侵入性成像，使其能夠以高達0.2微米的精度每小時檢查多達300個晶圓。成像單元讓技術人員分析缺陷圖像，快速、精確地進行適當調整。機器還使用了技術層技術來區分材料，允許用戶在個別設備之外分析晶片層。該工具還設計有一個安全和靈活的圖形用戶界面。此界面允許用戶自定義資產設置,並根據所需的要求校準模型。這樣可以確保每個設備都是專門為手頭的任務量身定制的。總體而言,TIB 139掩模晶片檢測系統是一種易於配置且可靠的檢測解決方案。它是半導體生產的理想選擇，讓用戶達到高精度和可靠的檢測結果。該裝置以先進、高度可靠的缺陷檢測機而贏得聲譽，並在許多大型工業生產場所成功實施。
還沒有評論