二手 ASM TIB 139 #9299366 待售

ASM TIB 139是專門為晶圓切塊工藝設計的掩模和晶圓檢測設備。它是Advanced Semiconductor Manufacturing （ASM）系列產品的一部分。TIB 139使用先進的光束圖樣技術檢查晶圓表面，以檢測潛在的微缺陷。該系統包括一個專門設計的大型光學臺、一個圖像處理單元和一個高分辨率相機。此外，它還支持一系列高級光學和軟件，便於對晶圓表面進行不同放大倍率的全場檢查。大的光學表使它能夠檢查晶片表面最多10微米的區域，其高達50 nm的顯著更高的分辨率甚至可以檢測到表面最微小的缺陷。包含在單元中的相機的CCD分辨率為2048 × 1536,動態範圍2560X2048。它還包含一系列濾鏡,這些濾鏡對於提高圖像質量和實現更好的分析至關重要。為了適應不同的晶圓尺寸，ASM TIB 139還附帶了可互換的裝載盤。機器中包含的軟件支持高級圖像分析和精確測量和計算。它可以通過分析不同角度的圖像和顯示缺陷的糾正操作指令來檢測異常和不規則性。這保證了晶片符合期望的標準。TIB 139工具也高度可靠，可用於大批量生產環境。它允許生產優質晶片，有助於減少因表面檢查缺陷而造成的浪費。高性能、可靠和用戶友好的特性使其成為晶圓切丁工藝的理想選擇。