二手 ASM TIB 139 #9299470 待售

ASM TIB 139是一種自動化的掩模和晶片檢查設備，設計用於快速識別和檢測掩模和晶片表面的缺陷。該系統執行各種檢查，包括視覺、自動光學和/或電子束。TIB 139是一個全封閉式單元，旨在提供高吞吐量和自動化缺陷檢測能力，具有最大精度和精度水平。機器帶有兩種截然不同的檢查模式，可用於檢查形狀、幾何形狀和角度不同的掩模和晶片。第一種模式使用自動光學檢查進行檢查，使用高分辨率相機技術檢測掩模和晶圓表面的總缺陷。該工具采用先進的軟件算法進行編程，從而能夠進行更精確和準確的缺陷檢測。它還配備了定義明確的光源，以確保準確的結果。第二種模式是電子束檢查，使用電子顯微鏡精確檢查晶圓或掩模基板的表面。此模式提供了極其詳細的圖像,使用戶可以通過自動光學檢查檢測到可能看不見的非常小的缺陷。ASM TIB 139資產是一種易於使用、極其精確和精確的工具,旨在滿足任何大容量半導體制造商的需求。它提供了廣泛的檢查功能,同時提供了最高水平的準確性和可靠性。無論是用於檢查口罩還是晶片，模型都提供了無與倫比的準確性、精確度和易用性。