二手BROWN & SHARPE(光罩與晶圓檢測)待售

Brown&Sharpe是一家著名的制造商,它提供先進的面罩和晶圓檢測系統,旨在確保高精度和精確度。這些檢測系統對於半導體制造過程至關重要。他們的旗艦產品之一MicroVal 343是一個模擬掃描探測系統，能夠全面評估掩模和晶圓表面。它提供高分辨率，允許檢測小到幾納米的缺陷。MicroVal 343具有快速無損檢查的優點,能夠準確識別關鍵區域的缺陷。Brown&Sharpe的另一個值得註意的檢查系統是One 775。該系統利用先進的成像技術對晶圓和掩模表面進行深入分析。利用其復雜的算法，它甚至可以檢測和分類最小的缺陷，使制造商能夠提高產量和提高產品質量。此外,Brown&Sharpe的4.5.4 SF是專門為尺寸、形狀和位置檢查設計的精確坐標測量系統。它提供了無與倫比的準確性和可重復性,非常適合測量復雜的特征並確保符合嚴格的規範。這些來自Brown&Sharpe的檢驗系統為半導體制造商提供了確保口罩和晶片的完整性和質量的手段。它們提高了生產效率,減少了報廢和停機時間,並提高了生產過程中的總產量。