二手CARL ZEISS(光罩與晶圓檢測)待售

Carl Zeiss是先進光學解決方案的領先制造商，他們的面罩和晶圓檢測設備在業界備受推崇。這些系統在確保半導體掩模和晶片的質量和功能方面發揮著關鍵作用。Carl Zeiss著名的產品之一是模擬掩模檢查系統MeRit HR32 Plus。它利用先進的光學和高分辨率成像來檢測甚至在亞微米級的缺陷。該系統提供快速、準確的檢查,以便在影響芯片生產之前識別關鍵的掩碼錯誤。另一種流行的型號是AIMS 193，它是一種先進的航空影像計量系統。它能夠全面分析平版印刷階段的蒙版誤差。AIMS 193提供影響圖像質量的關鍵參數的實時測量，如臨界尺寸變化和叠加誤差。此信息確保了精確的過程控制,從而提高了芯片產量並提高了性能。AIMS 32-193i是另一種將AIMS 193的成像能力與全面的缺陷檢查特性結合在一起的變體。它為掩模驗證和缺陷處理提供了一個通用的解決方案,為掩模設計的質量提供了寶貴的見解。Carl Zeiss的掩模和晶片檢查裝置在高精度、準確性和可靠性方面表現出色。將這些機器集成到半導體制造過程中可以提高整體生產效率和產量。通過及早檢測和分析缺陷,可以最大程度地減少成本高昂的返工和延誤。Carl Zeiss擁有MeRit HR32 Plus等多種模擬工具以及AIMS 193和AIMS 32-193i等混合資產,為半導體行業的特定需求提供量身定制的解決方案。