二手 CARL ZEISS / HSEB Axiospect 300 #9397356 待售

CARL ZEISS/HSEB Axiospect 300掩模和晶片檢測設備是一種通用、高度精確的半導體晶片、掩模和光掩模檢測和分析自動化檢測系統。此單元提供對整個表面積上的曲面、缺陷和叠加等特征的三維光學測量。HSEB Axiospect 300結合了高數值孔徑（NA）和盡可能高的景深,提供極精細的聚焦和分辨率,實現了能夠執行自動全表面檢查和詳細特征識別的亞微米分辨率。CARL ZEISS Axiospect 300結合了多種照明模式，以應對廣泛的檢查，使機器能夠有效處理反射樣品以及具有高表面地形變化的成像標本。Axiospect 300允許將缺陷分類為嚴格的標準,提供任何樣品狀態的清晰畫面,並識別局部缺陷以及大規模汙染。從最大顏色呈現到模具級檢查（如電氣測試標記）特征,機載圖像采集幾乎無休止的圖像場景類型進一步增強了這一點。CARL ZEISS/HSEB Axiospect 300具有多種檢查模式,從簡單的大規模汙染區域檢查,到深入的光學檢查,再到納米分辨率。它易於定制,以確保更精確地針對任何客戶的樣本和需求進行定制。可以輕松地將報告和數據上載到網絡進行遠程存儲,以及直接比較檢查圖像以快速識別任何錯誤或缺陷。它還包括各種配件，如脫殼解決方案和專門的晶圓滑，使HSEB Axiospect 300可以用於各種行業。CARL ZEISS Axiospect 300可靠且易於使用,是進行掩模和晶圓檢查的寶貴工具。