二手 CEI 651 #9271495 待售

CEI 651是一種高性能的自動掩模和晶片檢測設備，設計用於提供可靠和可重復的質量保證和過程控制。該系統將最新的計算機視覺硬件和軟件集成到一個直觀易用的平臺中。651利用先進的照明技術進行精確和可重復的成像。通過使用動態照明、投影和成像技術，這個單元能夠檢測到輕微的表面異常，從而產生準確的缺陷表征。CEI 651還配備了功能強大的照相機,可捕捉高質量、高分辨率的圖像,同時將噪音降至最低。這樣可以改進表面質量檢查和更精確的缺陷檢測。為確保準確性,651提供了多種高級圖像處理技術,包括邊緣檢測、過濾和模式識別。所有這些功能使該工具能夠快速準確地識別復雜掩模和晶圓曲面中的缺陷。資產還具有先進的數據分析算法，以促進操作員對分析結果的理解。此外，CEI 651還提供了光學圖像分析儀（OIA）等高級缺陷分析工具。此OIA使用戶能夠快速輕松地將參考圖像與樣本圖像進行比較,從而能夠對任何差異進行更詳細的評估。這可與OIA一起用於檢查針孔缺陷以及其他次要曲面特征。651提供了可靠和可重復的質量保證和過程控制來源,這對於生產高質量的口罩和晶片至關重要。其先進的照明、相機和圖像處理技術，以及先進的缺陷分析工具，使用戶能夠準確識別和表征復雜表面的缺陷。憑借快速直觀的界面,CEI 651是一種用戶友好且可靠的手段,可提高質量控制和成本效率。