二手 CEI Opt 653 #149295 待售

製造商
CEI
模型
Opt 653
ID: 149295
Third optical inspection machine with auto conversion Package specification: Lead frame dimensions: Width: 20 mm - 90 mm Length: 140 mm - 280 mm Loading / unloading: Single magazine input / output Magazine Dimensions: 145 mm to 285 mm (Length) 25 mm to 95 mm (Width) 150 maximum (Height) Convertible magazine elevator system (programmable pitch) Motorized Frame pusher assembly with obstruction sensors Auto package conversion sensor controls to prevent damages to parts Workholder station: High accuracy Programmable X-Y table Device obstruction detector Pneumatic device gripper to inspection area Less than 5 minutes programming time (for pre-programmed package) X-Y index accuracy of ± 50um Manual and auto indexing capability Inspection System: Segmented inspection (up to 16) Option of performing sampling or 100% inspection Stereozoom microscope Strip mapping features with defect codes Software features: 100 Predefine reject coding GPPH, MTBA, MTTA report and SPC Lot report with strip map Reverse strip report useful for QA 5 Stage password protection Premapping software features Programmable strip movement during inspection Strip map color coding Segmented inspection (up to 16 segment) Controller: Microsoft Windows PC based control with UPS Facilities: Power supply: 110 VAC / 8 A, 230 VAC / 4A Air supply: 72.5 psi (5 bar), CDA.
CEI Opt 653是一種掩模和晶片檢測設備,設計用於檢測掩模和晶片基板上的缺陷和汙染。由加州東部實驗室開發的Opt 653通過其3-2-infinity光學器件和新的掩模檢查算法,實現了自動檢查和改善圖像質量。該系統提供了完美的表面光潔度,完美無瑕的圖像質量和盡可能高的缺陷分辨率。該裝置可以檢測不透明和透明的遮罩基板上的亞微米缺陷和表面汙染。它使用光學字符識別算法來檢測甚至晶圓和掩模表面上最精細的細節和不規則性。該機針對各種圖像處理算法進行了優化,如脊線特征定位和邊緣增強。CEI Opt 653的硬件由五個主要部件組成--多通道高分辨率相機、變焦鏡頭和分束鏡;三個固定大小的舞臺位置;以及場效應晶體管(FET)檢測器陣列。變焦鏡頭允許工具以絕對精度快速聚焦在特定的缺陷或物體上。FET檢測器陣列提高了相機的分辨率,允許檢測到非常小的缺陷。Opt 653啟用了軟件,具有預先設置的檢查和過程配方,允許用戶快速設置和運行掃描或檢查。它還具有直觀的用戶界面,允許用戶根據需要調整操作和設置。資產還提供對照明、聚焦和放大設置的完全控制,以及啟動和停止檢查過程的能力。為了獲得更高精度和更準確的結果,用戶可以從三種檢查模式中進行選擇:平面、接觸和超限。CEI Opt 653與公司的OnDemand平臺兼容,該平臺支持數據捕獲和報告以及遠程查看和分析。該平臺還允許用戶回憶以前的掃描和檢查、存檔結果以及記錄趨勢。該型號具有47.2英寸的表格尺寸,能夠處理圓形和方形遮罩基板。它還設計方便用戶,為掩模和晶片檢查提供快速、準確和可靠的解決方案。
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