二手 CHAUVIN ARNOUX CA 6425 #9352728 待售

CHAUVIN ARNOUX CA 6425掩模和晶片檢驗設備是一種半導體測試和測量系統，設計用於檢驗先進晶片和掩模光刻。配有內置光站，提供高分辨率數字成像檢測缺陷。此單元具有直觀的用戶界面、自動功能和測量功能,可針對特定應用程序進行自定義。該檢測機配備CHAUVIN-ARNOUX CA 6420/6421數字視頻工具軟件,這是一個集成開發工具,可提供直觀而強大的圖形用戶界面來控制操作。此軟件允許用戶通過執行對比度、亮度和二進制操作來測量、分析和報告成像的晶片和掩碼。CA 6420/6421視頻工具軟件還支持邊緣掩碼和孔掩碼識別以及交叉標記等高級功能。CA 6425 Mask&Wafer Inspection的其他功能包括高分辨率和低分辨率成像的可變視場、不同類型的Mask和Wafer的多個照明選項、圖像捕獲和比較功能,以及自動缺陷分類和報告（ADCR）的擴展功能。CHAUVIN ARNOUX CA 6425 Mask&Wafer Inspection tool可與多種不同的外部檢查設備和配件集成，如電動Z-movement stage、電動和手動X-Y stages、數碼相機、2D BGA pick-and-place和晶片級測量系統。為確保準確性，CHAUVIN-ARNOUX軟件會根據具體應用仔細校準所有外部設備。此外,CA 6425 Mask&Wafer Inspection資產還可以與分析模塊集成,從而實現缺陷評估以及缺陷分類和報告。分析模塊為各種測試功能（如線條和邊緣寬度、圓形和橢圓大小）以及配準精度提供自動測量和報告功能。總體而言,CHAUVIN ARNOUX CA 6425 Mask&Wafer Inspection模型是一種直觀且功能強大的設備,可提供高分辨率的成像、自動化和定制的測量功能以及集成的缺陷分析。它被設計為滿足當今半導體制造業的高速晶圓和器件掩模生產要求。