二手 DATAPHYSICS ACA 50 #9123550 待售

ID: 9123550
優質的: 2001
Fully automatic contact angle measurement systems Programmable, video-based Holds up to (6) ES-A electric dosing modules SCA-50 software package ver. 1.21 Build 74 WT200E Motorized measuring stage adjustable in (3) axes Lens mount with motorized adjustable tilt Motorized zoom with software controlled aperture, magnification, and focus High resolution CCD camera with video frame grabber Windows NT 4.0 running full graphical user interface with 32 bit software Analysis of drop according to Pendant Drop method Multiple sample holders (includes 6" and 8" wafer holders) 2001 vintage.
DATAPHYSICS ACA 50是一款功能強大的掩模和晶圓檢測設備,設計用於半導體織物。它提供了晶圓基缺陷和汙染的精確缺陷和地形測量。它能夠檢測到小至0.07 µm的亞波長缺陷,從而實現高分辨率成像和分析。該系統采用一種正在申請專利的自適應對比度技術,調制圖像的亮度和對比度,以獲得更好的檢查結果。這在檢查過程敏感缺陷和汙染時非常重要,對於布局復雜的設備尤其有用。該機使用紅外線光源,準確安全。它還具有先進的多光譜成像分析機,能夠同時獲取圖像數據與多個濾波器。這確保了準確和可重復的結果,即使有不同的樣品類型和底物。ACA 50具有用戶友好的用戶界面,便於設置和操作。它還包括各種高級功能,以提高檢查任務的效率和準確性,包括自動晶圓配準、背景補償、缺陷縮放、圖像縫合、圖像優化和階段對準。該工具具有用於自動處理樣本的集成階段。它配備了電動X-Y機械級,支持6 「x6」的最大樣本量。該階段配備了專有技術,以確保樣品的精確定位和對準,以便進行高效檢查。該資產與定制開發的軟件工具庫集成在一起,以幫助減少檢查時間並提高準確性。這些工具包括缺陷跟蹤工具、圖像預處理模塊和晶圓級分析模塊。它還包括一個基於GUI的缺陷分級模型和一個存儲和組織所有檢測數據的集成缺陷分析數據庫。DATAPHYSICS ACA 50旨在提供快速、準確和可重復的自動晶片和掩碼檢查過程。通過為用戶提供全面的分析功能和高效的自動化,設備有助於降低總體成本並提高產量。
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