二手 DAVIDSON D 305 #117235 待售

DAVIDSON D 305 Mask&Wafer Inspection Equipment是一種精密儀器，用於識別Mask和Wafer中的缺陷。這臺自動化機器將高分辨率光學功能與用於故障分析的強大數據處理相結合。它對直徑可達300 mm的晶片提供開銷和側視圖檢查。該系統被設計為一種適用於廣泛應用和工業環境的通用解決方案。它可以檢測微小的缺陷，如劃痕、缺失的圖案和顆粒，同時為觀看者提供高分辨率叠加的全彩色圖像。它提供了許多設置,包括有效的缺陷大小、閾值設置以及缺陷類型和位置。D 305利用先進的算法，利用合並的光學和圖像處理系統檢索到的信息，為用戶提供準確的缺陷測量。這有助於加快決策，提高流程效率。此外,該單元還配備了功能強大的數據分析程序,使用戶能夠快速輕松地識別缺陷並確定其特征。機器還具有先進的用戶界面，使操作員能夠快速方便地操作和維護工具。使用直觀的菜單,用戶可以快速訪問可用的設置和功能。還可以使用外部控制實驗室視圖快速訪問、監視和控制所有連接的設置。DAVIDSON D 305專為需要先進但易於使用的掩模和晶圓檢查資產的用戶而設計。它提供可靠的數據收集、測量和分析,以幫助識別缺陷並確定其特征。它是一個強大的模型，為滿足個人用戶需求而量身定制，為用戶提供快速可靠的設備。