二手 DCG SYSTEMS / CREDENCE EmiScope I #9118942 待售

ID: 9118942
優質的: 2004
Time-resolved photon emission system, Type 2 detector 120V, 50/60Hz CE tagged (1) N Control cabinet EmiScope-I controller Illuminator module Ortel 9308 picosecond time analyzer Wiener UEP15 module K-O Concepts recirculating chiller TRE fixture lid p/n C76319-001rev01 2004 vintage.
DCG SYSTEMS/CREDENCE EmiScope I是一種掩模和晶片檢驗設備,利用最新一代的成像技術和材料工程過程來檢驗和檢驗半導體掩模和晶片基板。這樣就可以檢測到生產、包裝或運輸操作造成的任何表面缺陷和不規則性。CREDENCE EmiScope I系統配備了一個超高分辨率數碼相機,可以從三個不同角度捕獲掩模和晶片表面的圖像,從而能夠對輪廓、微觀細節水平和缺陷檢測進行詳細分析。該設備的軟件提供自動缺陷識別和修復功能,可有效地快速成像、識別和修復缺陷。還包括自動對焦表面調整功能和自動缺陷檢測功能,從而可以使用標準顯微鏡目標、xyz級和自動對準系統對準圖像。DCG SYSTEMS EmiScope I機器提供了幾種格式的數據捕獲:單翼電影;立體聲電影;多極/多平面圖像;極地功率圖像;以及可以檢測給定區域內生產錯誤的缺陷查找器。EmiScope I由Windows XP Professional提供支持。這允許使用圖形用戶界面(GUI)來運行「缺陷分析工具箱」等程序,從而可以診斷、分析和解釋檢查工具識別出的任何表面或晶片缺陷。基於軟件的攝像機允許用戶實時監控基板運動和缺陷。DCG SYSTEMS/CREDENCE EmiScope I Inspection Asset非常適合用於各種環境,如研發、實驗室、生產環境和教育設施。它具有緊湊的模塊化設計,使其易於運輸,並且能夠為任何應用程序配置。此外,它采用符合人體工程學的設計,易於使用和設置。CREDENCE EmiScope I Mask and Wafer Inspection Model是用於檢測和修復基板缺陷的功能強大、用戶友好且經濟高效的工具。該設備能夠捕獲蒙版和晶片表面的高分辨率圖像,並具有強大的軟件,能夠準確診斷、分析和解釋所產生的任何缺陷。該系統的人體工程學設計以及與Windows和Macintosh計算機系統的兼容性使其非常適合用於實驗室、研發和教育設施。
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