二手 ESI / MICROVISION 882 #9104381 待售

ESI/MICROVISION 882 Mask&Wafer Inspection Equipment是世界領先的半導體工業缺陷分析計量和成像技術。它的特點包括非接觸成像和自動缺陷檢測,在用於檢測和測量掩模和晶片表面問題時提供了無與倫比的準確性,從而大大縮短了加工和分析生產批量的時間。ESI 882利用兩個組件提供了高級缺陷識別體系結構。首先是一個光學系統，它提供了一個高分辨率的放大圖像的表面，從而允許精確識別甚至最微妙的不規則或缺陷。其次是利用神經網絡掃描圖像中存在缺陷的缺陷檢測算法，然後根據缺陷的各自特征對其進行分類。MICROVISION 882面罩和晶片檢查組提供了廣泛的功能,使用戶能夠根據自己的特殊需求定制機器。它支持手動和自動操作,包括三種照明選項以進行最佳分析,即可見模式、紫外線模式和紅外模式。它還提供了幾種大幅面傳感器和各種模式識別功能的選擇。該工具可用於各種基板上，從金屬到光學材料，並能在平面和垂直尺寸上確定從µm不等的缺陷大小。此外，它還配備了高達1000X的放大能力，為缺陷識別提供了出色的分辨率。882 Mask&Wafer Inspection Asset還帶有直觀的用戶界面,可輕松訪問各種軟件功能。它配備了用於顯示結果的高級圖形工具,使用戶能夠更輕松地發現缺陷,此外,它還提供了「操作員分析幫助」,提供直觀的指導,極大地促進了缺陷的掃描和分類。利用ESI/MICROVISION 882掩模和晶圓檢測模型,用戶可以享受到針對其特定行業需求而量身定制的先進、可靠的缺陷檢測技術。它為半導體制造提供了一個絕佳的平臺,通過簡化分析和優化過程幫助降低缺陷和生產成本。