二手 ESI / MICROVISION MVT 7080 #293607230 待售

ESI/MICROVISION MVT 7080是為半導體檢測而設計的掩模和晶圓檢測設備。它結合了先進的光學和軟件技術，為復雜的掩模和晶片提供高分辨率成像。該系統可以檢測到一系列缺陷，包括開放、短、孤立和布局缺陷，以及顆粒、汙染物和光掩模瑕疵。該裝置利用一個強大的顯微鏡成像機器來捕捉面具和晶片的詳細圖像。該顯微鏡采用4倍電信中心變焦光學，能夠以可重復的方式捕捉高分辨率圖像。成像工具還包括濾鏡和光源，用於檢查掩模或晶片的表面細節。圖像捕獲資產被耦合到計算機控制的XY階段,以便進行像素級掃描。該檢測模型配備了專門的自動化缺陷分析工具。該分析工具能夠利用圖像處理算法的組合檢測和分析缺陷。算法使用預定義的庫數據來準確確定缺陷相關特性。軟件還配備了用戶界面，可以方便地操作設置和自動計算缺陷相關參數。ESI MVT 7080被設計為一種多功能的面罩和晶圓檢測設備。它采用模塊化設計,可輕松與其他系統集成,從而實現快速、輕松的安裝。該系統還可以通過網絡連接進行遠程操作，以便進行異地管理和監測。它專為24/7操作而設計，保持了高質量和精確度。總體而言，MICROVISION MVT 7080是一個先進的掩模和晶圓檢測單元。它結合了強大的光學和軟件技術來檢測和分析復雜的缺陷。模塊化的設計使安裝和集成變得容易，並且機器是為全天候運行而設計的。這使得該工具成為檢測和分析半導體應用缺陷的理想選擇。