二手 ESTEK WIS-900 #293595286 待售

ESTEK WIS-900是一種先進的掩模和晶片檢測設備，旨在在以最高速度檢測先進技術內存和邏輯晶片的同時提供卓越的準確性和可重復性。其集成軟件使用戶能夠快速準確地檢測和識別晶圓和掩模中的潛在缺陷，並以高精度率獲得高收益結果。該系統由兩個部分組成：一個計算機控制的掃描單元，用於檢測半導體晶片和掩模中的任何不規則性或缺陷；一個全面的數據采集和顯示機器，用於顯示強大而準確的缺陷變異性。WIS-900使用先進的視覺工具來提高檢查速度和準確性。其軟件包括用於提取各種缺陷參數、創建和顯示測量結果以及生成報告的一系列特殊算法。掃描設備采用移動級和掃描攝像機,分辨率為4 μ m,用於檢測基板上的不規則性,同時檢查多達三種不同的材料。引入先進的圖像處理技術，大大提高了模型檢測缺陷的能力，使缺陷的大小降低到0.5- μ m。掃描速率為每小時200個晶圓,每個晶圓最多8,000個測量值。掃描字段大小是用戶可選擇且可調整的,因此允許進行全晶片缺陷檢查。所有測量結果以及缺陷圖像都可以保存並顯示在ESTEK WIS-900上。設備為用戶提供全面的缺陷分析和報告，如缺陷大小、位置和類型。統計信息、過程信息可以通過故障數據和排序數據來捕獲和顯示,也可以通過點、沖浪、線圖和區域圖來顯示結果。WIS-900的通用控制、數據收集和顯示使流程和質量工程師能夠根據自己的興趣和要求定義和顯示信息。ESTEK WIS-900是識別和分類半導體器件上的小缺陷的一種非常有效和可靠的方法。除了改進缺陷檢測外,系統還改進了誤差校驗、監控和屈服.它既方便用戶,又提供高質量的缺陷分析。該裝置的堅固性為所有類型的掩模和晶圓檢查提供了安心和長期的可靠性。