二手 FAMECS FRNB-750SA-8E-SV #9259382 待售

FAMECS FRNB-750SA-8E-SV是一種掩模和晶圓檢測設備，旨在對半導體應用進行高效、準確的評估。該系統設計為多用途，具有高分辨率攝像頭、自動對焦和幀合並以及多位置光源等功能。該裝置具有高分辨率CCD攝像機和光源組合，能夠獲得高精度的掩模和晶片圖像。CCD相機能夠捕捉到4,000倍的蒙版和晶圓圖樣放大圖像，分辨率高達10的。CCD相機結合了具有自動對焦和幀合併功能的專用鏡頭，用於成像困難的幾何形狀，如CD（臨界尺寸基板）。該機還設計了多位置光源，便於從不同角度獲取圖像。這在揭示蒙版和晶片上難以捕捉的特征時特別有用,例如斜角或深蝕刻圖案。這種多位置光源的好處是在捕捉到的圖像中具有更大的完整性和準確性，這是由於檢查了多種視角。除此之外，掩模和晶片檢查由於能夠從一幀捕獲的各種角度快速查看而變得更加高效。該工具設計為用戶友好與直觀的圖像反饋面板。它包含了多種圖像和基於趨勢的反饋和統計信息,例如最小/最大強度、像素總數等。此面板允許用戶查看、檢查和驗證從CCD攝像頭獲得的圖像。該資產還具有利用測量和判斷功能對電路模式進行缺陷分析的能力。用戶可以通過計算每種模式的最小/最大大小、每種模式的面積大小百分比或其他統計特征,快速判斷和驗證電路模式的質量。FRNB-750SA-8E-SV Mask and Wafer Inspection Model旨在通過其高分辨率CCD攝像頭和多位置光源組合,為用戶提供一種功能強大且高效的設備,以捕捉高質量的Mask和Wafer圖像。其直觀的圖像反饋面板和缺陷分析功能使執行檢查和驗證成為一個快速、高效的過程。對於需要準確快速評估其半導體應用的用戶來說，這是一個很好的解決方案。