二手 HENNECKE He-WI-03 #9071444 待售

HENNECKE He-WI-03
ID: 9071444
Wafer inspection system Currently crated and warehoused.
HENNECKE He-WI-03是一種用於光學圖樣測量應用的掩模和晶圓檢測設備。其高分辨率成像傳感器產生出色的圖像質量,使研究人員和工程師能夠準確檢查掩模圖像並評估缺陷定位。該系統采用緊湊設計,單顯微鏡,適配CCD相機單元,定位機。顯微鏡捕獲高分辨率圖像,放大幅度可達64倍,可調整以聚焦0.5毫米至3.5毫米大小的晶片。這種精確的縮放和聚焦範圍使得它非常適合在高精度水平捕獲晶圓圖樣的詳細圖像。相機工具配備了先進的電荷耦合器件(CCD),可以以12位增強色深捕捉高達500萬像素的圖像。它還具有先進的圖像處理資產,使用戶能夠檢查圖像的特定缺陷並準確確定缺陷定位。該型號的定位設備不僅允許精確的晶圓圖像捕獲,還支持在顯微鏡中自動放置掩模圖像。這樣可以確保放置在顯微鏡中的圖像與掩模正確對齊,從而消除用戶錯誤並簡化測量。He-WI-03還與特殊軟件集成,用戶可以將客戶掩碼圖像與內部生成的掩碼和缺陷圖像進行比較。此外,該軟件還使用戶能夠可視化圖像中的缺陷位置和分布,從而提高檢查過程的準確性。該系統提供準確可靠的數據,適合在線和離線使用。HENNECKE He-WI-03具有增強的圖像性能和方便用戶的軟件,使識別和分析晶片缺陷變得更加容易。
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