二手 HIMS NMI-100 #9234652 待售

HIMS NMI-100是一種具有最先進的光學和IT技術的掩模和晶圓檢測設備。該系統提供了掩模和晶片整個表面的絕佳視圖，使其能夠檢測納米尺度的缺陷。NMI-100使用具有先進散焦測量技術的高分辨率自適應光學器件和強大的照明照明裝置來檢測即使在密集圖像中的非常微妙的缺陷。先進的光學、圖像處理算法和精密機器人技術的獨特結合，能夠檢測和測量小至1nm的粒子和缺陷。HIMS NMI-100的掃描機可以配置多個晶片級，允許高通量的檢查而不犧牲精度或精度。該工具還配備了高精度的機動化級，用於晶片和掩模的精確和可重復定位。此外,該資產還能夠分析具有多達數千種特性的芯片的高密度區域。NMI-100具有高度優化的批處理體系結構,可實現最高的準確性和吞吐量。「檢查」模塊可同時掃描多達8個掩碼和8個晶片,最多可支持16個掩碼和16個晶片批次,從而提高效率和準確性。該車型還支持兩種並行檢測渠道，一次運行兩種不同產品類型的檢測。HIMS NMI-100還配備了強大的缺陷分類設備，可以根據其類型自動分離缺陷。該系統能夠分割顆粒、隔離缺陷和故障沈積缺陷，對缺陷類型進行準確分析，同時降低誤報率。NMI-100能夠識別可重復的缺陷,並具有可靠的圖像處理算法以及高吞吐量檢查信息。對錯誤警報位置和錯誤的自動檢測和拒絕使HIMS NMI-100能夠準確檢測缺陷,即使在密集的圖像中也是如此。此外,設備還可以識別低至1nm的缺陷大小,從而可以檢測到非常小的缺陷。NMI-100是用於掩模和晶片檢查的寶貴工具,提供了一套全面的技術能力和卓越的精確度。機器提供的高通量和準確的結果使其非常適合用於制造和測試環境。