二手 HITACHI IS 2610 #9144002 待售

HITACHI IS 2610
ID: 9144002
晶圓大小: 8"
Defect inspection systems, 8".
HITACHI IS 2610是一款高性能的掩模和晶片檢測設備,設計用於對各種類型的半導體晶片和光掩模進行詳細、高分辨率的檢測。該系統采用先進的光學成像技術,以納米分辨率檢測晶片和掩模的缺陷和缺陷。此外,該單元使用最先進的計算機輔助設計(CAD)平臺,自動檢測缺陷,分析數據,優化檢測過程。該機包括雙掃描儀設計、模式識別引擎、宏塊圖像校正模塊、自動裝訂功能以及增強3D缺陷檢測的立體光學工具。這種技術組合有助於確保在檢查過程中獲得最準確的結果。圖像銳化過程保持高質量的圖像,能夠進行詳細的評估和可靠的模式識別。創新的模式識別引擎可以識別照片中的缺陷,並對其進行優先檢查和維修。此功能有助於減少返工時間並提高產量。自動裝箱功能提高了生產精度,而立體光學設備提高了三維缺陷檢測.IS 2610先進的光學設備結合了高分辨率成像和創新的雙頭設計,改進了自動缺陷檢測。該模型使用二進制光學,結合聚焦和聚類/拼貼算法,以納米精度檢測缺陷。對深度和對比度的關註提供了改進的圖像質量和可靠的缺陷檢測。集成照明設備保證了可變樣品的最佳照明。此外,宏塊圖像校正模塊可以校正和提高即使是最小缺陷和缺陷的圖像質量,而立體光學系統可以實現3D缺陷識別。HITACHI IS 2610還為用戶提供了一系列軟件工具和選項,用於定制檢查過程和優化產量。該單元包括可輕松設置和分析的直觀圖形用戶界面(GUI)、資產管理工具、全面的報告和趨勢分析、數據導出功能,以及一系列可供進一步定制的可選功能。此綜合功能集使用戶能夠自定義檢查過程,以最好地滿足他們的需求,並最大限度地提高生產效率。總之,IS 2610是一種先進的掩模和晶片檢測機,為可靠的缺陷檢測和提高產量提供了詳細、高分辨率的數據。該工具結合了成像技術、自動化缺陷識別工具和軟件功能,以優化檢查過程並確保一致、可靠的性能。
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