二手 HITACHI IS 2700SE #9123256 待售
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ID: 9123256
晶圓大小: 12"
優質的: 2004
Defect inspection system, 12"
Process: Scanning electron microscope(SEM)
(2) Loadports: TDS TAS3000
Dalsa controller
TDI Sensor
Laser box
Microscope
Stage assy
Controller card cage (left):
CPK B/D Slot 11~15, 20, 22~25
CPK B/D Slot 16~19, 21
Macro 6642 B/D
TECTRON B/D
Controller card cage (right):
BPK B/D Slot 11~14,17~20, 22~25, 28~31
BPK B/D Slot 15,16, 21,26,27, 32~34
Operation module:
System computer
(3) Power supplies
CCD monitor
PC monitor
Video printer
Laser power switch box
Coherent laser controller
Keyboard, joystick, trackball
Rear cover missing
Power: AC200V, 1 Phase, 3-wires, 50/60Hz, 60A
2004 vintage.
HITACHI IS 2700SE mask&wafer檢測設備是一種先進的自動光學檢測系統,旨在高效分析半導體和電子制造業中的光掩模和晶片。它提供高速且非常精確的檢查功能,能夠快速識別新設計和現有設計中的缺陷。IS 2700SE的設計采用精密、6軸機器人和8000萬像素圖像處理傳感器，能夠以極其精細的細節檢查早期的掩模和晶片。它提供正面和反面以及復雜的多面檢查。此外，它的晶圓檢驗能力包括識別石英和玻璃基板上的缺陷。HITACHI IS 2700SE利用高精度光學成像技術精確檢測即使是尺寸高達2納米的最小缺陷。該單元獨有的是多光束共聚焦光學構型，它使機器能夠獲得比典型透鏡工具更精確的圖像。這使IS 2700SE能夠更快地識別缺陷,並在幾秒鐘內記錄準確的結果。利用可用於處理掩模和晶片類型的任意組合的探針陣列,資產可以檢查平面、微電極、臺階曲面以及開槽材料。該模型具有一系列自動化測試,可與各種軟件配合使用,使用戶能夠查看測試結果並設置測試參數,從而能夠更快、更高效地進行測試。軟件包括缺陷分類、檢測調整、面向區域檢測、故障定位、閾值模式和順序缺陷圖。HITACHI IS 2700SE提供了廣泛的工具,允許用戶自定義如何執行任務。這些包括圖像和缺陷內存、自動變換編程和檢測工作流監控。它還具有用戶友好的GUI界面,可簡化操作並消除操作員在場的需要。IS 2700SE是高效分析和自動檢測光掩模和晶片缺陷的可靠高效工具。憑借其自動化測試和用戶友好的GUI,它提供了強大的檢查功能,並且是任何半導體和電子制造工廠所必需的。
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