二手 HITACHI LA-3100 #293643617 待售

HITACHI LA-3100 Mask and Wafer Inspection Equipment為用戶提供了一個全面的檢查系統，用於晶圓和Masks的目視檢查。采用高分辨率彩色相機進行成像缺陷檢測，采用256K像素CCD成像芯片進行缺陷檢測。該單元帶有12位A/D轉換器和用於檢測缺陷的多個圖像處理算法。它為全面和部分檢查提供支持，並且能夠識別晶圓或掩模上存在的各種類型的缺陷。機器上的用戶友好軟件使瀏覽工具的不同功能和控制參數變得容易。啟動資產後,用戶將獲得7英寸的自我解釋直觀監視器,該監視器包含以下功能：用於縮放的滑桿、焦點和其他參數、用於自定義的標準菜單,以及用於不同類型檢查的多個軟件包。該模型還具有高分辨率的數字圖像輸出，確保了卓越的數據質量。LA-3100提供高級圖像處理功能,包括缺陷檢測、明域/暗場檢測、缺陷分類和密度分析。它還能夠執行多種檢查模式，包括全場、左右比較、橫向搜索、二元化等。此外,它還包括一個過濾條件調整功能,允許用戶調整設置,以便更好地檢測特定缺陷。該設備的一個重要方面是易於維護。用戶可以輕松訪問所有必要的部件,以確保系統的完整維護和維修。用戶還可以輕松地將設備參數傳輸到其他HITACHI系統。總體而言,HITACHI LA-3100面罩和晶圓檢測機是尋求可靠、通用檢測儀的用戶的絕佳選擇。它提供了用於檢測、分類和分析各種晶圓和掩模缺陷的高級特性和功能。該資產還提供出色的用戶支持,使用戶能夠快速輕松地接收更新和信息。