二手 HITACHI LS 6800 #9149619 待售

HITACHI LS 6800
ID: 9149619
晶圓大小: 8"-12"
Non-pattern wafer particle inspection system, 8"-12" 40 nm.
HITACHI LS 6800是由HITACHI High Technologies開發的業界領先的口罩和晶圓檢測設備。該系統是一種高性能、高精度的產品,旨在為客戶提供用於識別半導體晶片和掩模缺陷的可靠、準確的解決方案。該單元提供了廣泛的功能,允許快速、可重復和高精度的檢查,適用於許多不同類型的產品和工藝。HITACHI LS6800采用了多種光學成像技術,包括獨特的光學圖像波前分析功能,甚至可以檢測產品表面最小的缺陷。使用多種不同的光源來識別各種類型的缺陷,包括可見光、紫外線和激光。機器還可以配置多種軟件,允許用戶根據自己的具體需求定制檢查速度、能力和精度水平。該工具還包括各種圖像傳感器和光學組件,使用戶能夠獲得對晶圓和掩模位置以及缺陷大小的高度精確的測量。通過使用這些組件,用戶可以準確識別產品上的最小缺陷。此外,還可以使用光學模式匹配功能來識別肉眼可能不明顯的缺陷。為改善整體工作流程,LS 6800配備了先進的3D Inspection Asset。此模型能夠從多個角度分析圖像,從而更容易從單個角度識別隱藏或難以看到的缺陷。憑借其強大的參數數據庫,用戶可以輕松存儲特定作業和過程的參數,使檢查過程更加高效準確。總體而言,LS6800是一種功能強大且用途廣泛的掩模和晶片檢查設備,能夠對各種產品和工藝進行準確和可重復的檢查。其全面的特性、圖像傳感器和光學元件陣列,使其成為許多不同類型的半導體檢測要求的完美解決方案。憑借可靠準確的結果,HITACHI LS 6800是尋求可靠、高性能、經濟高效的檢測系統的客戶的理想選擇。
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