二手 HORIBA PR-PD2 #293747971 待售

HORIBA PR-PD2是一種掩模和晶片檢測設備，對先進的半導體器件提供可靠的質量控制和缺陷分析。該系統結合了亮場和暗場光學器件，以高達1.9µm的分辨率對掩模和晶片進行成像，產生高達94%的缺陷檢測率，並與各種掩模、晶片和基板兼容。暗場和亮場系統都利用高端光學器件和高效的日光燈來提供精確和精確的圖像。HORIBA PR-PD 2具有自動缺陷檢測單元,可快速檢測各種類型和大小的缺陷。提供了多種解析工具和特征集，包括粒子分析、晶圓圖檢驗、幾何圖樣匹配。有了粒子分析特征集，PR-PD2就能檢測到晶圓和掩模中的微粒，大小從4微米、5微米和6微米。晶圓圖檢查特徵允許自動分析晶圓圖，允許偵測由暗粒子或明亮粒子所造成的不完全圖樣或擾動。最後,幾何陣列匹配功能可實現自動陣列匹配,從而無需手動審閱和提高準確性。PR-PD 2帶有幾個不同的接口，如串行端口、網絡端口和圖形用戶界面，允許輕松集成到現有的檢查過程中。此外,可以根據檢查設置將計算機配置為在專用或共享服務器上運行。該工具軟件可安裝在任何操作資產上,並由PC控制,以便於操作和數據共享。HORIBA PR-PD2還配備了功能強大的遠程控制選項,允許用戶通過互聯網連接從任何PC或筆記本電腦控制模型。HORIBA PR-PD 2已認證符合各種行業標準,包括SEMI、JEDEC和JIS。設備的設計和制造符合嚴格的標準，保證了檢驗和質量控制過程的可靠性和準確性。總體而言,PR-PD2是一個先進而可靠的掩碼和晶片檢測系統,可提供出色的缺陷檢測率、與各種掩碼、晶片和基板的兼容性,以及使用一系列功能集和分析工具的自動缺陷檢測。該設備可以輕松集成到現有的流程中,並通過任何具有互聯網連接的PC或筆記本電腦進行控制,使其成為希望確保產品質量的半導體制造商的理想選擇。