二手 HORIBA PR-PD2 #293751087 待售

HORIBA PR-PD2是一種高性能的掩模和晶片檢測設備，旨在提高吞吐量、準確性和可追蹤性。它提供了卓越的圖像質量和缺陷檢測功能,並結合了直觀的用戶界面。該系統采用一種新開發的掃描電子束（SEM）技術，能夠掃描晶片從明暗，均勻度± 3%。利用3.2 GHz的掃描速度,它可以掃描多達1000個晶圓/小時,從而通過縮短檢查時間來提高吞吐量。對於自動缺陷分析,設備使用高級算法來準確識別缺陷並識別任何問題。它具有使用X射線的自動芯片識別功能，能夠檢測晶片背面的汙染，以及工藝產量分析。「Pattern Sense窗口比較」功能允許機器分析來自相似模式的數據,例如,不同位置的相同大小和方向。這樣可以在現場獲得更好的性能。該工具具有指導散射分析以識別表面不規則和其他缺陷的3D-profiling能力。氧化物和氮化物的自動反射率模式支持對復雜薄膜層的評價。綜合軟件包提供了輕松完成一系列任務所需的所有功能,如缺陷分類、分類、檢查管理和數據挖掘。該軟件經過專門設計，能夠對4位數據結構進行全面分析，從而能夠比較來自不同來源的圖像。憑借其獨特的功能,HORIBA PR-PD 2為制造商提供了檢查設備掩碼和檢測各種應用程序缺陷所需的功能。它是自動晶片檢驗的理想工具,可幫助制造商最大限度地提高效率並降低成本。