二手 HORIBA PR-PD2 #293778203 待售

HORIBA PR-PD2是一個高度先進的掩模和晶片檢查系統，旨在提供對高級掩模和晶片中關鍵缺陷的高精度和高速分析。該系統由雙光源高速檢查組組成，配備了兩個獨立光源，一個8X物鏡和一個寬視野。此外,系統還使用高級CMOS傳感器,實現高速、高分辨率的圖像捕獲。這還得到了HORIBA圖像分析工具箱（HIAT）軟件的補充,該軟件允許檢測、識別和量化正在測試的掩模和晶片上的缺陷。HORIBA PR-PD 2的雙光源高速檢測儀能夠處理各種各樣的晶圓和掩模尺寸、形狀和厚度。它的八倍（8X）對象鏡頭提供了廣闊的視野，允許全範圍的缺陷檢測和臨界測量。高速檢測單元具有可調孔徑，對控制景深、保證高精度很有用。先進的CMOS傳感器提供高速、高分辨率的圖像捕獲,允許完全解決掩碼或晶片上的缺陷。高級傳感器進一步得到全套圖像處理工具的支持，包括3 D缺陷映射、自動對比度設置和降噪算法。先進的HORIBA HIAT軟件與雙光源高速檢測單元集成，提供魯棒性缺陷檢測和分析。該軟件利用模式分析和機器學習算法來檢測、識別和量化缺陷，以便進一步處理。此外,HIAT還提供了強大的圖像過濾工具,以實現準確高效的缺陷篩選。它還提供了一套缺陷處理算法，包括焦點距離控制和統計標記。最後,PR-PD2結合了強大的硬件和軟件功能,為關鍵掩碼和晶圓缺陷提供了準確可靠的分析。先進的雙光源高速檢測儀和CMOS傳感器與HORIBA HIAT軟件相結合，為掩模和晶片的檢測和分析提供了一個獨立或串聯的有效解決方案。所有這些功能都有助於確保準確的審查和執行重要的測量,進一步優化生產過程。