二手 ICOS CI 8250 #9161520 待售

ICOS CI 8250是一種綜合性的掩模和晶片檢測設備，可以快速準確地識別掩模和晶片中的缺陷。該系統是為滿足最苛刻的半導體應用的需求而設計的，因為它能夠精確地查明非常小的缺陷。它提供了改進的圖像質量、廣泛的特征測量以及改進的圖像分析功能,同時保持了較高的生產吞吐量。CI 8250單元包括多種工具,可幫助檢查口罩和晶片。它包括一個用於跟蹤檢查信息的綜合圖像存儲機器，以及一些用於缺陷分析的先進系統。該工具還能夠自動聚焦，為檢查員提供詳細的圖像，使他們能夠準確識別缺陷。ICOS CI 8250資產也為冗余和驗證提供了廣泛的支持。它具有高級計劃模型等功能,可幫助從頭到尾簡化檢查過程,並允許快速做出決策。還有一個曝光控制設備，它使用多個傳感器，以確保在檢查過程中曝光的一致性和準確性。CI 8250系統還使用先進的3D處理算法來準確識別平面和復雜表面掩碼中的缺陷。這樣可以讓單位檢測到微誤、翹曲、針孔、裂紋等表面問題等缺陷。它還可以檢測電弧故障和介電故障等結構缺陷。最後，ICOS CI 8250機具有圖像處理工具，可以檢測復雜形狀的尺寸缺陷。此功能允許在缺陷檢查中具有很高的準確性。CI 8250資產是一種全面、高效的口罩和晶片檢測解決方案。它的特點和各種各樣的工具使它能夠識別非常小的缺陷,提供改進的圖像分析功能,並以較高的圖像質量和精度提高吞吐量。這些特點，加上它對冗余和驗證的詳細支持，使得這種模型成為高質量和精確度的掩模和晶片檢驗的理想選擇。