二手 ICOS HM-200 #293598500 待售

ICOS HM-200是為提高半導體生產的效率和精度而設計的一種協作的掩模和晶圓檢測設備。HM-200能夠執行二維（2D）和三維（3D）自動缺陷檢測,並具有完整的缺陷特征。該系統包括集成的視覺、電氣和光學測試功能,允許高度缺陷覆蓋。ICOS HM-200配備了高分辨率成像光學單元，使機器能夠在與原子力顯微鏡（AFM）相當的水平上檢測缺陷。HM-200的操作面積可達600mm x 600mm,速度可達10um/sec,可快速準確地進行分析。ICOS采用的圖像分析算法HM-200允許自動檢測裸露缺陷和與層相關的缺陷。該工具還能夠區分制造過程中的小錯誤導致的危險缺陷和無害缺陷。HM-200具有易於使用的軟件以及用戶友好的界面。該資產具有全面的缺陷目錄、圖形用戶界面（GUI）、缺陷庫以及配方和報告管理功能。集成的跟蹤特征允許精確測量缺陷之間的距離以及缺陷的寬度和深度。ICOS HM-200還包括一個可選的SINFONIA模型，一個自動晶圓缺陷檢測和分類設備。SINFONIA系統允許完整的缺陷捕獲和分類,能夠定義自定義缺陷檢測配方並存儲有關缺陷類型的信息。該設備能夠檢測多層晶片上毫米級分辨率的缺陷。HM-200為半導體生產提供了一個經濟高效的解決方案,它具有先進的圖像處理和分析能力,以及高速和準確性。該機設計為可靠、直觀、易於使用的生產工具，為掩模和晶圓檢測提供了高效、精確的方法。