二手 INTEK PLUS IPIS-LWI1600L #9396010 待售

INTEK PLUS IPIS-LWI1600L是一種面罩和晶圓檢查設備,旨在為用戶提供高分辨率和高靈敏度的光學檢查。該系統適用於範圍廣泛的晶圓尺寸，可以用自動采樣級裝置進行檢查。本機利用專利雙飛對焦（DFF）激光照明工具和先進的激光光源實現高分辨率檢測能力。此外，該資產還具有激光驅動的光學傳感器，可確保對晶圓表面進行精確和詳細的檢查。DFF激光照明模型使用受控激光束傳遞精確的照明焦點。用戶能夠控制和調整焦點，以確保整個晶片表面的照明盡可能均勻。此外，通過使用兩個激光束的組合，該設備能夠對高反射率和低反射率區域進行精確的檢查，並保證高分辨率圖像。IPIS-LWI1600L系統還具有先進的激光光源（ALLS）。此功能通過提供結構化照明環境幫助提高吞吐量。先進的算法使算法能夠保持光線處於最佳狀態，而不管晶圓大小和形狀如何。ALLS功能還允許用戶控制曝光時間和激光功率，確保檢查過程中的最大效率。該單元旨在提供高對比度、高分辨率的圖像。所有圖像均從相機中提取,並以數字格式保存以進行存檔。然後將單獨捕獲的組件組合在一起,生成具有真實顏色映射的圖像。此功能允許用戶準確識別任何缺陷。INTEK PLUS IPIS-LWI1600L機適用於工業和研究應用。最後,該工具設計的穩定性和可靠性.嵌入式資產控制器可確保始終校準模型並以最佳性能運行。為了進一步提高設備性能，檢查過程涉及視覺算法和軟件算法，使用戶能夠更好地識別任何晶圓缺陷。此外，軟件還包括一系列檢查，如表面地形、粘合墊、芯片參數和光學平面測量。這樣可以確保IPIS-LWI1600L為用戶提供準確可靠的檢查解決方案。