二手 IRVINE OPTICAL Ultraspec III #39811 待售

IRVINE OPTICAL Ultraspec III
ID: 39811
Wafer inspection station NIKON Optiphot DIC Optics Isolation table.
IRVINE OPTICAL Ultraspec III是一種面罩和晶圓檢驗設備,設計用於生產和研發實驗室。利用先進的光學和三維成像技術,提供高效、高質量的檢測結果。該系統非常適合測試各種晶圓基板,包括光掩碼、顯示器、CMOS設備和其他集成電路。Ultraspec III利用少數組件最大限度地提高效率和性能。它的自動晶片處理程序使用電動平臺旋轉和定位基板,以便進行最佳檢查。高分辨率透鏡捕獲底物的圖像,提供詳細和揭示的圖像。IRVINE OPTICAL Ultraspec III還配備了先進的圖像分析軟件。它能夠捕獲靜態圖像和動態圖像,允許用戶快速分析樣本。它有一個內置算法,可以自動識別缺陷並在圖像上進行標記。軟件還包括全面的數據管理功能,允許用戶存儲圖像、分析信息和其他數據。此外,Ultraspec III還提供了一個集成的單元級測試端口。此端口用於將計算機擴展到其他測試環境,例如prober。此端口還允許用戶輕松地將額外的檢查任務集成到整個工具操作中。IRVINE OPTICAL Ultraspec III提供了一個用戶友好的界面來控制資產。它易於使用的菜單驅動菜單模型使它成為訪問所有設備功能的微風。此外,所有調整和參數都存儲在非易失性內存中,因此用戶可以快速啟動和運行系統。Ultraspec III是各種掩模和晶圓生產應用的理想選擇。它的先進光學和成像技術為間隙、叠加和臨界尺寸檢查等應用提供了可靠和準確的檢查過程。此外,其集成的單元級測試端口和用戶友好的界面使其成為新晶片和基板快速成型和測試的絕佳選擇。
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