二手 JUFU GTH-150-40-1P #9247162 待售

JUFU GTH-150-40-1P是一種自動化的面罩和晶圓檢驗設備，設計方便地融入生產線和實驗室。該機器提供了多種先進的功能，以便在大量樣品上進行可靠的缺陷檢測。該光學檢測系統設計用於自動掩模和晶片檢測，具有很高的吞吐量和精度。該單元利用單線掃描光學成像結構進行精確缺陷檢測，並利用強大的圖像處理器分析和分析圖像數據。光學機器能夠檢測小到5 μ米、大到1毫米的小缺陷。集成的CCD相機可捕捉分辨率高達每像素15 μ m的圖像,提供高分辨率、高對比度的圖像。該工具還具有用於缺陷分類和定位的強大分析軟件。GTH-150-40-1P的成像速度高達30m/s,可為多個檢查任務提供較高的處理速度。它可以按一個序列執行最多三種類型的檢查,並且可以處理尺寸不超過8英寸的晶片,每個晶片最多有1,000個站點。此外,該資產還支持直徑從1毫米到4毫米的多個晶圓樣本量。除了檢測缺陷外，JUFU GTH-150-40-1P還能夠進行各種計量測量。它可以測量樣品的輻射度和強度,以及樣品表面的輪廓、臨界尺寸和線性等特征。GTH-150-40-1P是一個可靠和通用的模型，非常適合生產線檢查和實驗室分析。它提供了一個靈活和用戶友好的界面，允許用戶輕松操作設備，並為各種檢查任務定制自己的設置。此外,系統還提供全面的數據分析和報告,使用戶能夠快速準確地分析結果,並根據需要采取糾正措施。