二手 K-MAC SpectraThick #9151983 待售

ID: 9151983
晶圓大小: 4"
Thickness measurement system, 4" Currently de-installed.
K-MAC SpectraThick是為半導體和太陽能工業等制造和制造工藝而設計的先進的掩模和晶圓檢測設備。該系統結合掃描電子顯微鏡(SEM)和自動光學檢查(AOI)技術,提供卓越的測量精度和微觀結構的詳細分析。SpectraThick允許在掩模和晶片上容易檢測到高分辨率微米級別的缺陷。檢測單元采用了最先進的1-D(深度)感測像素體系結構,用於精確的模模缺陷檢測。它采用主動聚焦和高速率掃描成像來測量亞微米缺陷的大小和形狀。這大大提高了整體缺陷檢測精度。該機集成了幾個精密的模塊化子組件,如自動光學檢查工具、缺陷成像資產、掃描電子顯微鏡和控制模型。所有子系統都是電連接的,並與一臺大型計算機設備集成在一起,使它們能夠相互通信。控制系統負責管理各種攝像頭功能,如識別和分類不同類型的缺陷。K-MAC SpectraThick也能夠進行參數和屈服分析。它具有全面的計量功能,允許用戶對零件進行精確測量。它利用先進的算法來快速準確地識別多個數據集之間的模式。該裝置還設計用於提前減少排便。它配備了強大的缺陷分析和預後軟件,使用戶能夠獲得對其流程的寶貴見解。利用這些數據,用戶可以采取糾正措施來提高產量。SpectraThick還提供最高級別的安全性和數據保護。它采用了一套復雜的安全措施,例如加密和安全驗證協議。這些措施旨在保護機器的敏感數據和知識產權。總而言之,K-MAC SpectraThick是一款先進且極其可靠的掩模和晶圓檢測工具。它的一整套功能幫助用戶確保其產品達到最高質量標準,同時還提供對流程的詳細分析。
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