二手 K-MAC ST 8000 #9195381 待售

K-MAC ST 8000是一種先進的掩模和晶圓檢測設備，結合光學顯微鏡和數字成像，用於對先進半導體制造工藝中的缺陷進行精確和高速檢測。該系統能夠檢測到廣泛的特征，包括紋理、晶圓結構、孤立的缺陷、多余的材料、異物、劃痕和結構缺陷。ST 8000的主要部件包括X-Y級、照明源、高分辨率數碼相機、圖像分析儀、具有原位功能的區域掃描濾波器以及廣泛的自動化測試和測量工具。該舞臺能夠以高達16毫米/秒的速度高速行駛，而數碼相機則能夠以530萬像素的最大分辨率拍攝圖像。該圖像分析儀能夠識別不同類型的缺陷並進行亞微米精度的測量。此外,自動測試和測量工具根據收集到的缺陷提供各種報告。K-MAC ST 8000還可以對晶片表面進行原位分析，讓單元更準確地識別出存在的缺陷類型。本機的原位能力結合了基於小波的異常檢測和紋理分割兩種分析技術。這種分析是實時進行的，允許立即反饋和更徹底的檢查和分析過程。ST 8000旨在提高半導體制造過程的效率，提供更快、更準確的缺陷檢測。此外,該工具對用戶友好,可以定制以滿足特定的生產要求。這一資產是晶圓和芯片制造商的理想選擇，他們努力爭取最高的質量控制標準，並希望從他們的投資中獲得最大的回報。