二手 K-MAC Ster #293650375 待售

K-MAC Ster是一種自動化的掩模和晶圓檢驗設備，旨在提高吞吐量，降低半導體制造工藝的檢驗成本。該系統使用先進的攝像機、算法和模式識別技術對晶圓和掩碼進行全面掃描，以發現任何異常和缺陷。堅固輕巧的Ster單元結合了高分辨率晶圓和掩模檢測攝像頭、可靠的大功率照明器和圖像處理單元，提供可靠準確的檢測結果。該機器能夠同時檢查單個或多個掩碼,並且可以檢測全局和局部缺陷。此外,該工具設計為高度可定制,允許用戶在幾分鐘內設置自定義掃描。K-MAC Ster提供多種分析模式，範圍從粗糙缺陷檢測到子像素分析。利用模式識別算法和檢測參數，可以快速準確地定位和識別缺陷。此外,該模型還配備了各種缺陷定義參數,允許用戶自定義掃描條件以符合其特定要求。Ster改善的影像品質也大大減少了誤報。錯誤警報是由於設備設置不正確或錯誤解釋缺陷而產生的聲音觸發器。這會導致成本高昂且大量的返工操作。但是,復雜的圖像增強功能（如圖像銳化、去噪和邊緣增強演算法）可減少錯誤警報並顯著提高準確性。為了進一步提高系統的可靠性，K-MAC Ster還對缺陷大小和位置進行快速準確的測量，可用於跟蹤多個掩模和晶圓周期上的缺陷。此外,集成缺陷管理單元允許用戶查看、修改和存儲無限數量的檢查,並比較多次掃描的結果。除了提供快速準確的缺陷檢測外,Ster還旨在簡化工作流程並提高操作員的工作效率,使用戶能夠獲得更高的產量、更低的成本和更好的性能。因此,K-MAC Ster是尋找能夠以經濟高效的方式提供高質量結果的自動掩模和晶圓檢驗機的半導體制造實驗室的理想選擇。