二手 KLA / ICOS CI 8250 #293591794 待售

KLA/ICOS CI 8250是一款高效、功能強大的掩模和晶圓檢測設備，經過設計，滿足了半導體生產線的要求。該系統的主要目標是在微電子生產缺陷檢測和預防方面提供高性能和準確性。它甚至可以檢測到掩模和晶片層中的微小缺陷，從而使它們能夠迅速地從生產線中移除。KLA CI 8250單元配備了先進的硬件、軟件和光學器件，可以準確檢測晶圓和掩碼級別的缺陷。其高性能光學器件甚至可以檢測到最小的缺陷，提供卓越的檢測和分析結果。此外，機器能夠掃描高分辨率的蒙版和晶片層圖像，深度的焦點可達16微米。這些清晰的圖像有助於仔細分析圖層中存在的缺陷，並使其能夠快速檢查。該工具還具有故障安全功能,可確保只能識別和糾正超出檢測閾值的缺陷。這使得它成為確保離開生產線的微電子器件質量的重要工具。此外，資產還支持自動檢查過程，進一步盡量減少遺漏缺陷的可能性，減少人為錯誤。ICOS CI-8250模型可以很容易地集成到現有的生產線中,並且需要最少的設置。它還具有很高的靈活性，可以根據生產線的確切要求和規格進行定制，從而在檢測和糾正缺陷方面實現更高的效率和準確性。此外,該設備還配有用戶友好界面,易於操作,能夠在不同模式之間快速切換並檢查不同的子系統。總體而言，KLA/ICOS CI-8250是一個高效而強大的掩模和晶圓檢測系統，旨在滿足半導體行業的嚴格需求。該設備先進的硬件、軟件和光學設備能夠準確、快速地檢測和清除最小的缺陷,從而確保只有優質的產品才能投入生產。