二手 KLA / ICOS CI 8250 #293655196 待售

KLA/ICOS CI 8250是一款市場領先的面罩和晶圓檢測設備,設計具有快速集成、通用配置以及用於非接觸式3 D檢測應用。該系統包括先進的成像技術、圖像處理算法以及能夠正確處理具有挑戰性、復雜和微小的零件和缺陷的出色單元能力。它非常適合檢查因失真、焦點變化或表面、反射效果和光散射而被遮蔽的圖像。KLA CI 8250通常使用靜態、非傾斜的成像路徑和快速、高頻的掃描機,以確保高精度和不斷更新的3D圖像。該工具包括兩個或四個相機和三個不同鏡頭的選擇,可以檢查各種元件尺寸、高度、形狀和復雜性。此外，該資產還提供了偏轉校正技術，以便在工作範圍廣泛的不規則環境條件下進行準確的測量。該模型的核心是ALDS-8050先進的光探測器設備（ALD-S），該設備采用先進的降噪和文本技術設計，用於可靠的圖像捕獲。它為晶片、掩模和其他任何尺寸的基板提供均勻的照明,並且能夠在單次和多次通道中以高度清晰和保真度捕獲缺陷圖像。ALD-S還具有集成的自動校準系統,可消除手動校準步驟。與ICOS CI-8250捆綁在一起的軟件側重於提供一個全面、方便用戶的檢查單位。它包括3 D視覺、非接觸式3 D幾何測量、掃描系統、強大的圖像處理算法、缺陷分類和分析工具以及自動缺陷審查和過程控制（APC）。該機器方便用戶，易於編程，能夠快速定制檢查檢查，以適應特定的晶圓、掩模和組件類型。該工具提供詳細的作業報告和過程控制圖,以確保能夠維護準確的過程統計信息和數據。總體而言,KLA CI-8250是一種功能強大、高效且精確的掩模和晶圓檢測資產,旨在滿足當今制造環境的需求。KLA/ICOS CI-8250部署迅速,用戶友好,能夠容納各種組件大小,並提供可靠、詳細的缺陷檢測和幾何測量。是口罩和晶圓檢測操作的理想選擇。