二手 KLA / ICOS CI 8250 #9110005 待售

KLA/ICOS CI 8250是一種自動化的掩模和晶圓檢測設備，設計用於高容量、高精度地執行關鍵半導體處理步驟。KLA CI 8250采用最新的圖像處理和缺陷檢測技術的前沿組合,能夠快速、精確地識別蒙版和晶片上的缺陷。通過在制造過程中及早檢測和糾正錯誤,系統可以幫助降低與延遲返工和產量損失相關的成本。ICOS CI-8250配備了一個先進的光學單元，具有先進的無窮大校正/復色/平面圖校正物鏡，用於忠實采樣高分辨率線空圖樣網格，這對於提高缺陷檢測的準確性至關重要。其可自定義的照明特點是具有可變區域的照明模式，使得面罩和晶圓缺陷檢查具有很大的靈活性和最佳的均勻性。CI-8250能夠通過集成一些特定於設備的缺陷測量來執行高精度缺陷測量。內置的高精度3D檢測技術可以以前所未有的精度測量到70 nm以下的設備特征,從而實現最佳的識別和分類。該機還支持柔性掩模/晶片對齊,以提高效率,並能夠識別和對齊具有30nm覆蓋精度的圖樣類型。ICOS CI 8250強大的分析功能可以消除來自不同來源的復雜專有數據的噪聲。該工具通過將強大的預測算法與從制造現場的多個來源收集的過程數據結合起來,實現了預測分析。這提供了對未來設備性能的深入了解,從而實現了主動解決策略。預測分析還可以幫助識別、分類和分類設備級缺陷,以優化產量結果。該資產還支持XML、JSON和MQTT等標準Web語言，允許其與外部系統之間無縫數據交換。它還與包括JTAG、IEEE1532標準版2在內的主要軟件兼容。它還得到優先支持和嚴格的工廠認證流程的支持,以實現最高的服務質量。總而言之，可靠全面的CI 8250是高容量、高精度的掩模和晶圓檢測的理想選擇。它以極高的精確度測量和評估掩模/晶片,並能夠進行預測分析以進行高效和有效的設備檢查。