二手 KLA / ICOS CI 8250 #9111213 待售

KLA/ICOS CI 8250是一款最先進的掩模和晶圓檢測設備，旨在滿足半導體行業的需求。這種自動化工具結合了先進的光學和軟件系統，在檢查過程中快速準確地檢測、分類和測量晶片上的潛在缺陷。KLA CI 8250使用分辨率為5納米的高分辨率光場光學顯微鏡，以及並聯接觸個體點模式識別系統。這使設備能夠捕獲、分類和測量各種缺陷,包括劃痕、顆粒碎片、線緣粗糙度、孔和部分位錯。機器還可以檢測臨界尺寸的變化，從而實現有效的質量控制。ICOS CI-8250還具有高級軟件功能。它包括一套協助缺陷分析的軟件工具，包括缺陷圖像分析軟件（IMAX）、缺陷審查軟件（FOTOS）和掃描審查軟件（WAVER）。這些工具使用戶能夠快速對缺陷進行分類和量化,並在缺陷超過閾值時通知流程工程師。此外,CI 8250還包括一個用戶友好的界面,可實現高效直觀的操作。它還具有先進的機器人自動化功能,允許自動化的樣品處理和分類。可以使用多個樣本持有者，包括扁平晶片樣本持有者、信號完整性陣列樣本持有者和步進重復樣本持有者。這允許用戶優化各種檢查和分析應用程序的CI-8250。綜上所述，KLA CI-8250掩模和晶圓檢測工具提供了強大的光學和軟件系統，可以在檢測過程中快速準確地評估潛在缺陷。此自動化工具旨在滿足半導體行業的需求,具有先進的機器人自動化、用戶友好的界面以及一套軟件工具,可幫助進行缺陷分析。