二手 KLA / ICOS CI 8250 #9124473 待售

KLA/ICOS CI 8250是一種全自動、先進的檢查設備,專為精確的掩模和晶圓檢查應用而設計。它配備了先進的光學器件、高分辨率的彩色成像，以及自動化的探測站，使其能夠快速檢測和糾正缺陷。KLA CI 8250融合了機器學習技術，使其能夠適應不斷變化的條件，最大限度地減少誤報，提高吞吐量而無需運營商幹預。檢查系統裝有一個多路復用彩色成像裝置，配備四個同時的高速彩色相機，分辨率為2048 x 1536像素。集成的藍色LED光源提供均勻的亮度,有助於提高成像性能。成像機能夠檢測到廣泛的掩模和晶片缺陷，包括顆粒、劃痕、空隙和金屬膜裂紋。該工具還檢查直通和線緣粗糙度,使其能夠識別和糾正這些類型的缺陷。ICOS CI-8250具有高速探測站,使其能夠在微缺陷投入生產之前捕獲它們。車站設有雙軸電動舞臺和高清攝像頭。圖像資產能夠在一個位置捕獲每個晶片的四個圖像,在一秒內最多捕獲八個圖像。高速掃描過程可確保高質量圖像,並為模型提供準確的缺陷定位信息。檢測設備采用先進軟件供電，使其能夠快速準確地檢測和糾正缺陷。該軟件結合了機器學習算法，使其能夠適應光學系統或晶圓特性的變化。該單元使用算法根據從以前的檢查運行中收集到的數據優化參數，以獲得更好的吞吐量。此外,軟件還允許操作員輕松創建定制的檢查配方。為確保質量和降低成本,CI-8250采用了一系列內置的質量控制功能。它具有集成的數據分析能力和智能拒絕算法來減少誤報拒絕。它還具有強大的錯誤檢測機，幫助消除生產中的錯誤。此外,該工具的培訓模塊還為用戶提供了有關如何操作資產和解釋結果的詳細說明。KLA CI-8250是一種高度可靠和精確的檢測模型，旨在滿足要求苛刻的掩模和晶圓檢測應用的要求。先進的光學設備、成像設備和自動探測站,以及機器學習技術和數據分析功能,使其能夠快速準確地檢測和糾正缺陷。內置的質量控制功能進一步提高了系統的效率，確保生產產出在規格之內。