二手 KLA / ICOS CI 8250 #9208706 待售

KLA/ICOS CI 8250是一種高度先進的微光掩模和晶圓檢測設備。它旨在支持最新一代半導體不斷升級的過程復雜性所要求的最新掩模檢查和晶片級缺陷檢測要求。它為客戶提供了正確的工具來準確檢查和審查掩模缺陷及其他相關領域。KLA CI 8250為掩模和晶圓檢測提供了最高水平的圖像質量和缺陷檢測過程。該系統具有先進的光源和兩臺高分辨率數碼相機,可在模具級顯示功能。它還具有5微米的掃描分辨率，三個提供均勻場內照明的LED光引擎，測量範圍為20mm至305mm。此外，它的8英寸平板x-y級設計方便裝卸樣品，這有助於盡量減少接觸任何微粒。8250還設有一個自動勘測和對準裝置，用於檢查x和y方向的樣品，並可以檢測和/或分類缺陷，以提供一致、快速和可重復的檢查。該機設計有一個潔凈室友好的外殼，旨在減少操作員進入所造成的任何輻照，並提供一系列可選的環境控制單元（ECU），以保持一致的濕度和溫度條件，確保在工藝的每一步都進行高質量的檢查，以達到最大精度。此外，ICOS CI-8250具有自動化的車載質量控制，使用戶能夠快速設置和執行檢查。使用直觀的操作工具，用戶可以測量、報告、記錄和比較結果，從而便於分析和理解缺陷模式。使用強大的算法，資產可以比傳統方法更快、更準確地定位和表征缺陷。8250是一種革命性的KLA產品，它結合了最大的靈活性和精度，用於掩模分析、晶圓檢測和缺陷表征。它為檢測晶片級缺陷提供了高質量、低成本的解決方案,提供了極致的準確性和生產率。