二手 KLA / ICOS CI 8250 #9305262 待售

KLA/ICOS CI 8250是一種功能強大的掩模和晶圓檢測設備,用於識別和解決任何類型生產過程中的缺陷。該系統利用先進的光學成像技術快速檢查整個加工過的晶片，並檢測地形和光掩模缺陷。它能夠對晶片進行2D和3D圖像分析，甚至能夠以高精度檢測最小缺陷。該單元配備了寬帶G線光源和高分辨率CCD攝像頭，提供高對比度的明亮圖像。其集成的圖像處理軟件允許快速、實時的自動缺陷檢測。KLA CI 8250還具有彩色觸摸屏界面，提供全面、全自動的缺陷分析。這臺機器還能夠以各種格式制作2D和3D圖像。ICOS CI-8250支持一系列尺寸在200毫米至450毫米之間的晶片。它還能夠處理一系列的光掩模布局，最大分辨率為1.2微米。該工具還可以檢測各種類型的缺陷，包括顆粒、地形、縫隙、縫隙、劃痕、抵抗異常和異物。CI-8250能夠提供快速、準確的缺陷分析。其快速檢測流程有助於降低質量成本，提高工藝產量。該資產具有廣泛的用戶友好功能,非常適合最具挑戰性的自動檢查應用程序。