二手 KLA / ICOS CI 8450 #9124470 待售

KLA/ICOS CI 8450是一種掩模和晶片檢測設備，設計用於檢測早期生產階段光掩模和半導體晶片上的缺陷。它具有高精度光學和成像系統，其精密的電子設備支持以極高的精度檢測面罩和晶片上的各種缺陷。這使它能夠識別具有高可重復性的最微小缺陷。KLA CI 8450具有最先進的光學成像系統以及高速數字圖像處理功能,可最大限度地提高吞吐量和生產效率。它利用創新的四通道技術，通過減少測量誤差來提高精度。該裝置能夠對雙面塗層進行檢查，這是在面罩和晶圓檢查中常見的挑戰。ICOS CI 8450的軟件能夠捕獲和分析來自多個來源的數據。它可以快速、準確地處理數據,以執行缺陷跟蹤和報告,從而實現全面的缺陷監控和生產管理。此外,軟件中還嵌入了高級算法以支持缺陷檢測。機器還包括一個直觀的用戶界面，這使得容易缺陷識別和檢查。界面還支持並排比較、3D可視化、自動缺陷提取等高級功能。它還與各種生產數據格式兼容,以實現高效的數據管理。此外,CI 8450是一種經濟實惠的檢測工具,旨在提供最佳性價比。它可以根據個別客戶的需求量身定制,為快速的生產啟動提供最大的靈活性和可靠性。綜上所述,KLA/ICOS CI 8450是一種先進的掩模和晶片檢查資產,在早期生產階段,可為檢測光掩模和晶片上的缺陷提供最高精度。其創新的光學設計、快速的圖像處理、先進的算法和用戶友好的界面，使其成為快速準確識別缺陷的理想選擇。