二手 KLA / ICOS CI 9450 #9173936 待售

KLA/ICOS CI 9450晶圓檢測設備是一種高精度的掩模和晶圓檢測系統，用於檢測薄膜結構中的缺陷。該單元使用先進的光學、電氣和工藝測試來分析半導體晶片和掩模,以找出可能導致設備性能差或潛在屈服損失的缺陷。該機器使用復雜的軟件套件和圖像處理技術實時檢測和分類缺陷，為質量保證過程提供了一個自動缺陷審查平臺。KLA CI 9450面罩和晶片檢驗工具旨在快速、準確地檢測各種基板上的關鍵缺陷和材料缺陷。它結合了光電子、圖像處理和膠片測量能力的獨特組合，以確保缺陷檢測和缺陷審查的全面覆蓋。該資產配備了一個用於廣域檢查和缺陷分類的雙視場光學平臺，以及一個高分辨率數碼相機，用於捕捉有缺陷的圖像和感興趣的圖樣。先進的成像算法旨在以各種放大倍數檢測缺陷，並解決各種缺陷類型。ICOS CI-9450晶圓檢驗模型采用了各種先進的工具，旨在確保最高質量保證水平。這包括用於基於模具位置的自動檢查和缺陷分類的模具中心模塊,以及用於缺陷分類和分類的高級1D算法。此設備提供了許多功能來簡化缺陷審查過程,包括自動缺陷審查和缺陷模板庫。還包括一個自我校準功能，可根據特定過程的影響進行調整。最後,軟件提供了直觀的用戶界面,使操作員能夠快速訪問數據並查看結果。KLA CI-9450晶圓檢測系統是半導體晶圓和掩模制造商的關鍵工具，提供了一個既可靠又準確的全面缺陷審查平臺。此單元提供了廣泛的功能,包括自動缺陷審查、缺陷識別、缺陷分類和分類以及缺陷模板庫。此外,該機器還提供強大的功能,包括針對特定過程影響的自我校準,以及直觀的用戶界面。利用這些功能,KLA/ICOS CI-9450晶片檢驗工具可確保關鍵掩模和晶片檢驗過程中的最高質量保證。